仪器型号：UH4150。
功能介绍：UH4150可以对固体、液体、薄膜、粉末材料进行吸光度、透过率、反射率和吸收特征谱图的研究；可以进行定性、定量分析，通过吸收光谱光谱扫描，动力学分析，以此确定物质中杂质含量，并根据吸收谱图判断物质的最大吸收波长，确定物质的分析条件；可以对光电材料和薄膜材料进行透过率和反射率的表征，得出粉末材料的漫反射光谱特性；可以进行金属片或金属片上的薄膜的镜面反射率测定。
技术参数/性能指标：
l 波长范围：185 nm~3300 nm
l 光度计范围：-2 Abs~5.0 Abs （正负数据无需改变参比样品）
l 波长显示：0.01 nm步进
l 基线记忆：5通道（系统基线1通道，用户基线4通道）
l 大样品室光学平台: 680 (W) × 470 (D) × 300(H) mm; 可放置430 mm × 430 mm大样品
l 可测试固体、液体、薄膜、粉末样品
测试项目：固体、液体、薄膜、粉末样品的吸光度（Abs），透过率（%T），反射率（%R），参比侧能量（E(R)）/样品侧能量（E（S））。
仪器状态：开放共享
预约平台：http://atc.zicat.cn
关闭返回