仪器型号：RC2。
功能介绍：椭偏仪是基于椭偏法的光学测量设备，工作在紫外、可见及近红外光谱段。可表征薄膜（块材）与光学常数相关的各类材料微结构特性，可测的样品包括块状材料、薄膜、在平面基底上生长或沉积的多层结构以及液体等。其应用包括：精确表征测试光谱范围上膜层及块材的光学常数（折射率n及消光系数k）、薄膜的厚度；通过对测量数据的分析，获得折射率梯度分布、光学常数各向异性、光学常数随温度的变化多种重要信息。
技术参数/性能指标：
l 光谱范围：210 nm ～ 1690nm
l 光斑尺寸：普通光斑4 mm直径，微光斑 300 µm直径
l 量角器：45°～90°自动变角
l 变温台：-70 ℃ ~ 600 ℃
l 数据采集时间：2 s ~ 10 s（全光谱、单角度采集）
l 数据测试能力：Psi、Delta、4*4穆勒矩阵、透过率、反射率
测试项目：薄膜的厚度及光学常数，变温光学常数研究，材料各向异性测量。
仪器状态：开放共享
预约平台：http://atc.zicat.cn
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